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一、划线平板是高度测量的基准面:将待测物与量表座一同放置于平板上,进行高度比较测量后可再将其高度与标准量块相比较.
二、划线平板是平行度测量的基准面:固定量表座,然后使量表指针接触在待测物表面上方,移动待测物,可检查工件面与划线平板面的平行度.
三、划线平板角度测量的基准面:利用平台作基准面,配合正弦杆及角度规,可进行角度量测.
四、划线平板是高精度划线的基准面:可按照工作图的尺寸,进行高精度的划线工作.
五、也可以根据用途在划线平台表面刻制刻度线.使划线、测量等工作更为方便.
